お役立ち情報

乱数生成はここまで進歩している AI時代のサイバーセキュリティを担保するために必要な事は？

EMVCoとは？L1、L2、L3テストの全体像解説

ISO/SAE 21434（自動車サイバーセキュリティ）

乱数発生器とは

電波暗室とは

eSIMのテスト

RFIDの性能評価のポイント

（SIM側かデバイス側か）通信デバイスの障害切り分け方法

サイドチャネル攻撃への対策

車載電子機器の進化（デジタルキー、NFC給電、車載ECU）とテスト

eSIMとは

EMVCo L3テストとは？

NFCデバイスのテスト

5G対応デバイス(通信機器)の開発・製造に必要なOTA試験とは？

サイドチャネル攻撃はIoT・コネクテッド市場を揺るがすリスクとなり得るか？

サイドチャネル攻撃とは

フォールト攻撃とは

RFIDタグが読み取れない4つのケース

RFIDタグ・ラベルの受入検査の評価ポイント

RFIDタグ・ラベルに不良品が混じることで起こることとその対策

車載向けNFCデバイスのテストシステムの重要性