アルテック株式会社
ICTソリューション特設サイト

デバイス・機械・機器・メディア間における
相互通信(ICT)を支える
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掲載ソリューション

RFIDタグ･ICカード製造装置 Muehlbauer

RFIDタグ･ICカード製造装置
Muehlbauer
RFID検査装置 Voyantic

RFID検査装置
Voyantic
ICカード検査装置 Micropross

ICカード検査装置
Micropross
ICカード／組込デバイスセキュリティ検査 Riscure

ICカード／組込デバイス
セキュリティ検査
Riscure
決済／モバイル規格テストツール UL

決済／モバイル
規格テストツール
UL
5G OTA試験 EMITE

5G OTA試験
EMITE
PDF圧縮／OCR Foxit

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Foxit
量子乱数発生器 Quside

量子乱数発生器
Quside

お役立ち情報

EMVCoとは？L1、L2、L3テストの全体像解説

2024.09.30 ブランドテスト

ISO/SAE 21434（自動車サイバーセキュリティ）

2024.09.27 車載・コネクテッド

乱数発生器とは

2024.07.08 ICTデバイスにおけるセキュリティの基本

電波暗室とは

2024.06.24 5G

ニュース

2024.05.20 展示会情報

COMNEXT［次世代］通信技術＆ソリューション展出展のご案内
2024.04.15 展示会情報

NexTech Week 第4回 量子コンピューティング EXPO【春】出展のご案内
2024.03.27 リリース情報

Quside Technologies社の高速で高品質な量子乱数生成機を提供
2024.03.06 リリース情報

IEEE 802.11be (Wi-Fi 7)機器のOTA評価用ソリューションをリリース(EMITE社)
2023.10.25 リリース情報

EMITE社のOTAテストシステムがサウジアラビアにてアンテナテスト用に採用