NFC検査装置（製造ライン用）MP500PT1-NFC
NFC端末のテストを
インラインで高速実行
MP500 PT1-NFC は、NFC端末（車載機器、決済端末、認証端末など）における製造時のテスト用途に開発された高精度かつ高速に動作するNFCテスターです。
デバイス・コンポーネントレベルの製造時品質検査から、それらを組み込んだOEMメーカーにおけるテストまで、APIとシーケンサーによる自動化処理による高速テストを提供いたします。
MP500 PT1-NFCの主な機能
- ISO 14443 A / B、MifareTM、FeliCaTM、ISO 15693のサポート
- リーダ／ライターモード、カードエミュレーションモード対応
- 市場で最も高速なアナログ測定機能を内蔵
- NFCフォーラムやEMVCo認定テストベンチとの相関性のあるテストが可能
- 使いやすいAPI、テストシーケンサでお客様の製造ラインに簡単に統合できます
- 研究開発時時に用いるGUIソフトウェアと同じソフトウェアで分析可能
- アナログRowデータ分析ツールなどが揃っており、監視から品質向上のための分析が迅速に行える
多くの機能は普段ネットワークアナライザを使用している方であれば直感的に理解できると思います。
例えばS11パラメータの測定、共振周波数測定やQ値の測定などが容易に行え、専用ソフトウェアによりデジタル／ASK変調の状態／アナログ波形をモニタリング可能です。
その上で当製品にはNFCテストにおける人の手間を最小化するための工夫が随所に施されていることが特徴です。 シーケンス制御により、負荷変調振幅、フレーム遅延時間など様々なNFCに関わるテストを自動化し、人の操作なしに行うことができます。
高機能かつ使いやすいビューアーソフト
当製品に付属するビューアーソフトはNFCのデジタル信号及びアナログ波形を可視化し、状況把握と分析に役立ちます。
車載機器のNFCテストに最適
理由1車載特有の温度環境を考慮
理由2高スループット
理由3シナリオのシミュレーションを自動実行
自動車メーカー様による完成した自動車のテストや、Tier1サプライヤー様による自動車に搭載されるモジュールのテスト等、MP500 PT1-NFCは今後NFCの適用が拡大される自動車業界の製造時テストに推奨いたします。
自動車業界での活用例
- 次世代カー開発における製造プロセス管理
- 車載ワイヤレスチャージとNFC
- ドアハンドルのNFC化
車載機器にNFCを搭載するのであれば当然相応のテストが要求されます。
処理速度が遅いソリューションを選ぶとボトルネックとなり、またテストに人手が必要になるため、高速・自動化・高精度のNFCデバイステストが実行可能な当製品を活用し車載機器のNFCテストを成功させましょう。
仕様
| 対応プロトコル | 内容 |
|---|---|
| ISO/IEC 14443 (proximity) | 対応データレート : 106, 212, 424, 848 kbps 非対称シンボルレートのサポート |
Type-B’ (Innovatron) |
| ISO/IEC 15693 (Vicinity) | 対応データレート : ハイ＆ロー データレート (1 out of 4及び1 out of 256) ・タグ動作 : 1と2のサブキャリアアンサー対応 |
| ISO 18000-3 Mode 1 | |
| Mifare™ | 対応バージョン : Classic, Light, Ultra Light, UItra Light C, Desfire |
| FeliCa™ | 対応データレート : 212, 424 kbps |
| NFC Forum modes | Peer 2 peer, Listening, Polling |
| NFC Forum tags | ・NFCタグ type 1 (Innovision Topaz) ・NFCタグ type 2 (MifareTM Ultra Light) ・NFCタグ type 3 (FeliCaTM) ・NFCタグ type 4 (ISO 14443 A/B) |
| ISO 18092 (NFC-IP1) | アクティブ/パッシブモード、イニシエーター/ターゲット対応 |
| Raw mode | カスタムプロトコルを実装可能 |
| プログラム可能なパラメータ | 内容 |
|---|---|
| 物理的パラメータ | ・磁界強度 ・変調の立ち上がり/立ち下り時間 ・変調指数 ・一時停止時間 (ISO 14443 A及びISO 15693) |
論理的パラメータ | ・Type A pause ・FWT, TR0, TR1, TR2 ・Communication speed ・Response time (contactless smart card simulation) |
| 表示可能な信号 | ・Signal waveshape (up to 10 points per clock cycle) ・Field presence ・Modulation ・Sequences, bytes ・I/O direction ・Baudrate changes ・Trigger state MPWaveshape Viewer available to manipulate the data obtained with the embedded analog acquisition paths |
| 利用可能な試験 | 内容 |
|---|---|
| 電気的テスト | ・共振周波数/Q値 (11MHz ～ 22Mhz) *磁界強度選択可能 ・S11パラメーター ・コンプレックスインピーダンス (抵抗、インダクタンス、キャパシタンス) ・Rp//Cp及びRs=Lsの計算 ・磁界測定 ・不可変調測定 ・データレート測定 ・リーダ／ライタ波形特性 (t1, t2, t3, t4, …) |
| 論理的テスト | ・アンチティアリングテスト ・フレーミング (パリティエラー、CRCエラー、プロトコルエラー、タイミング) |
| スパイ機能 *オプション | 内容 |
|---|---|
| 表示可能な信号 | ・シグナル波形 (最大10ポイント/クロックサイクル) ・フィールドプレゼンス ・変調 ・シーケンス ・バイト ・I/Oの方向 ・ボーレートの変更 ・トリガーステート |
| 本体寸法/重量 | 内容 |
|---|---|
| W × D × H | 166 × 280 × 58 mm |
| Weight | 1.80 kg |
