NFC検査装置（研究開発用）非接触テストステーションⅢ（CTSⅢ）
研究開発用
NFCテストシステムの
決定版
CTSⅢは、NFCテスト市場の進化と前世代のNFCテスト装置の多数のユーザーからのフィードバックを考慮して、これまでにない便利さを備えた適合性テスト機能を備えた新しいテストプラットフォームです。
ケーブル接続が少なく、セットアップ時間が短いため、CTSIIIのNFC自動テストのビジョンはこれまでになく効率的です。
ユースケース
1NFCを組み込んだ製品の妥当性確認と検証
NFCデバイスの研究開発における妥当性確認には様々な視点での分析が必要です。当製品を使用することで世界中のNFCデバイス開発者が使うことによって得られたノウハウを即適用することが可能になります。
2コンフォーマンステストの事前適合性確認
当製品はEMVCo、NFC Forum、ISO 10373-6などに準拠したテストを自動で実行可能です。例えばNFC Forum デジタルプロトコルには、1300を超えるテストケースが含まれています。これらNFC Forumで定義された全てのテストシナリオを実行します。
NFC標準への適合性テストソリューションの要件
- テストケースの品質保証のため、対応する標準化グループ(EMVCoとNFC Forum)の認定を受けている
- 追加のコード無しに実行できるターンキーソリューションであること
- 認定試験場で用いられている最新バージョンのテストケースへの対応が完了している
- 解釈の余地が無い明確なPASS/FAIL判定を提供する
CTSIIIはこれらを全て満たす認定テストソリューションです。
御社の研究室の中で、世界中の認定試験場と同じ基準でテストしましょう。
3NFC対応デバイスの相互運用性テスト
NFCデバイスは他のNFC搭載デバイスとの相互運用性（インターオペラビリティ）を確保する必要があります。しかし相互運用性テストの内容は濃密で時間が掛かり、手順はどんどん複雑さを増しています。
そのテストには自動化されたコンフォーマンステストソリューションの活用が一番です。
テスト対象NFCデバイスの種類
- NFC搭載スマートフォン
- 非接触型スマートカード
- 決済端末
- ウェアラブルデバイス（スマートウォッチ、補聴器など）
- スマートデバイス
- M2Mデバイス
- 車載機器
CTSⅢの主な機能
- ISO14443 A / B、ISO 15693、MifareTMおよびFeliCaTMプロトコルのサポート
- EMVCoL1およびNFC Forumの自動テストライブラリが利用可能
- アナログテストパラメータの正確な定義
- 統合プロトコルアナライザ機能
- 高性能DAQボードが利用可能
- 共振周波数、Q値、S11パラメータ測定が利用可能
- デジタル信号／変調の状態／アナログ波形を可視化するソフトウェアMP Managerが付属
- 豊富なAPIによりお客様固有のテストシーケンサーに統合可能
- コンパクトなフォームファクタ
- 従来のNI社NFCテストプラットフォームと比較して最大80%高速
仕様
| 対応プロトコル | 内容 |
|---|---|
| ISO/IEC 14443 (proximity cards) (Type A/B) |
対応データレート : ・106, 212, 424, 884 kbps , 1.6, 3.2, 6.4 Mbps ・VHBRオプション（ 最大6.8Mbpsをサポート） ・非対称のボーレートサポート |
ISO/IEC 15693（Vicinity） | 対応データレート：ハイ＆ロー データレート（1 out of 4及び1 out of 256） タグ動作：1と2のサブキャリアアンサー対応 |
| Mifare™ | 対応バージョン：Classic, Light, Ultra Light, UItra Light C, Desfire |
| FeliCa™ | 対応データレート：212, 424 kbps |
| NFCフォーラムモード | Peer 2 Peer, Listening, Polling |
| NFCフォーラムタグ | ・NFCタグ type1（Innovision Topaz） ・NFCタグ type2（MifareTM Ultra Light） ・NFCタグ type3（FeliCaTM） ・NFCタグ type4（ISO 14443 A / B） |
| ISO 18092 (NFC-IP1) | アクティブ/パッシブモード、イニシエーター/ターゲット対応 |
| Raw mode | カスタムプロトコルを実装可能 |
| プログラム可能なパラメータ | 内容 |
|---|---|
| 物理パラメータ（すべてのタイプ） | ・磁界強度 ・変調の立ち上がり/立ち下り時間 ・変調指数 ・一時停止時間（ISO 14443 AおよびISO 15693） ・各ビットの持続時間+ EOF + SOF（ISO 14443 A） ・任意波形発生器 |
論理パラメータ | ・タイプAの一時停止 ・FWT, TR0, TR1, TR2 ・通信速度 ・応答時間（非接触スマートカードシミュレーション） |
| スパイ機能 | 内容 |
|---|---|
| 表示される信号 | ・フィールドプレゼンス ・変調 ・シーケンス ・バイト ・I / Oの方向 ・ボーレートの変更 ・トリガーステート |
| 利用可能な試験 | 内容 |
|---|---|
| 電気テスト | ・共振周波数/Q値（5MHz ～ 30Mhz) ・コンプレックスインピーダンス ・反応時間Response time ・不可変調 ・PCD 磁界強度 ・PCD 波形 ・オシロスコープビュー |
| 本体寸法/重量 | 内容 |
|---|---|
| 機械的寸法 | H102ｍｍ × W204mm × L306mm |
| 重量 | 3.8Kg |
| PC 接続 | USB2.0 または1G bpsイーサネット |
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