ICカード検査装置／端末検査装置MP500TCL3（非接触）

MP500 TCL3は、非接触スマートカード、リーダ、NFCデバイスの特性評価用途として、高度なシグナル生成機能と類のない柔軟性を併せ持った検査装置です。

MP500 TCL3の主な機能

• ISO 14443 A / B、ISO 15693、FeliCaTM、MifareTM、NFCフォーラムのタグ（1,2,3,4）に基づいて、端末およびスマートカードの波形の生成をサポート機能
• ASKモードとPSKモードの両方でVHBR交換（超高速ビットレート）のサポート機能
• 内部スパイ機能（テスターとテスト中のデバイスの間のスパイ）
• 定義されたすべての物理パラメータ（電界強度、キャリア周波数、立ち上がり/立ち下がり時間、…）の調整機能
• 進んだ摂動を定義するために任意の信号発生機能
• VNAのような共振周波数/ Q係数の統合測定機能（測定を実行するためのツールによって生成される電力の定義）
• 複素インピーダンス（抵抗/静電容量/インダクタンス）の測定機能
• ISO 10373-6、ISO 10373-7、NFC-IP1、NFC-IP2、NFC Forum、EMVCo、ICAO規格の適合テスト機能
• ワイヤレス充電試験への拡張機能（ワイヤレス電力コンソーシアム）
• オープンプラットフォーム：MPManagerソフトウェアまたはDllドライバを使用して、独自のテストシーケンスのプログラム化機能

対応プロトコル

ISO/IEC 14443 (proximity)

• Supported data rates : 106, 212, 424, 848 kbps
• VHBR (ASK & PSK)
• Asymetrical baudrates supported

B’ (Innovatron)

ISO/IEC 15693 (Vicinity)

• Supported data rates : high & low, 1 out of 4, 1 out of 256)
• Tag behaviour 1 and 2 sub carriers answers supported

Mifare™

• Supported data rates : high & low, 1 out of 4, 1 out of 256)
• Tag behaviour 1 and 2 sub carriers answers supported

FeliCa™

• Supported data rates : 212, 424 kbps

NFC Forum modes

• Peer 2 peer, Listening, Polling

NFC Forum tags

• Tag type 1 (Innovision Topaz)
• Tag type 2 (MifareTM Ultra Light)
• Tag type 3 (FeliCaTM)
• Tag type 4 (ISO 14443 A/B)

ISO 18092 (NFC-IP1)

• Supports Active/Passive mode, Initiator/Target

Raw mode

• Possibility to implement custom protocols

プログラム可能なパラメータ

Physical parameters (all types)

• Field strength
• Rise/tall time of the modulation
• Modulation index
• Pause time (ISO 14443 A & ISO 15693)
• Duration of each bit + EOF + SOF (ISO 14443 A)
• Arbitrary waveshape generator : definition of slopes, noises, addition and multiplication with alternative signals

Logical parameters

• Type A pause
• FWT, TR0, TR1, TR2
• Communication speed
• Response time (contactless smart card simulation)

スパイ機能

表示される信号

• Signal waveshape (up to 10 points per clock cycle)
• Field presence
• Modulation
• Sequences, bytes
• I/O direction
• Baudrate changes
• Trigger state

利用可能な試験

電気テスト

• Resonance frequency / Q factor (11MHz to 22 MHz) @ selectable field strength
• Complex impedance (resistance, inductance, capacitance)
• Computation of Rp//Cp
• Magnetic field measurement
• Generation of EMD (Electro magnetic disturbance)

論理テスト

• Numerous timing controlled pre-implemented sequences
• Anti-tearing test
• Framing (parity error, CRC error, protocol error, timing (too short, too long))

本体寸法/重量

• W x D X H : 166 x 280 x 58 mm
• Weight : 1.80 kg