ペロブスカイト/シリコンタンデム太陽電池用フォトルミネセンスPL式ライフタイム/欠陥検査測定システム
R3-MJ（bT imagining）
bTimaging社
- 所在地: オーストラリア シドニー
- 設立: 2005年
- bTimagingは、産業用フォトルミネセンス(PL)画像解析システムのパイオニアです。シリコン半導体や太陽光発電モジュールのインゴット・ウェハ・セルを高速に非接触・非破壊で画像検査することが可能です。
「R3-MJ」ペロブスカイト/シリコンタンデム太陽電池用フォトルミネセンス(PL)式ライフタイム/欠陥検査測定システム
- 外寸: 2,300mm(高) x 800mm(幅) x 1,100mm(奥)
- 重量: 約340kg
- 電源: 200VAC/15A
- sCMOS: 2,048 x 2,048 pixels (FOV: 230 x 230mm)/CMOS: 9,568 x 6,388 pixels (FOV: 40 x 40mm)
- NIR光源: シリコン基板/VIS光源: ペロブスカイト層
- QSS-PCステージ: Sinton WCT-120 *オプション
R3-MJは、bTimagingの最新フォトルミネセンス(PL)画像解析システムです。既存のシリコン基板用LIS-R3に、ペロブスカイト薄膜用R3-TFが加わり、Bottom Cellのシリコン基板やTop Cellのペロブスカイト層のみに限らず、タンデム/多結合の状態でも、複数の波長が異なるレーザーと2種類の解像度が異なるCMOSカメラで、フォトルミネセンス画像解析によるライフタイム測定や欠陥検査が、短時間で一度にマッピングイメージにて可能です。
PL/EL測定項目(タンデム/多結合)
- PL画像Rseriesイメージ
- PL画像Rshuntイメージ
- iVoc/iFF/iEFFイメージ
- Voc/Rs/Jmp/Vmp/FF/Efficiencyイメージ
- I-V/Suns-Voc(pFF/pseudo-Efficiency)
- Current Match Point determination
- Mismatch loss analysis
フォトルミネセンス(PL)画像解析
欠陥検査
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