MP300 TC3は、コンタクトスマートカードとセキュアエレメントのテストの世界標準です。
世界中の何百ものユニットに出荷され、数多くのテスト機能により、このツールのコンポーネントの特性評価や検証ラボでのタイプ承認に理想的です。

MP300TC3の主な機能
- ISO 7816、SWP / HCI、I2C、SPI、USB 2.0、USB-ICプロトコルに従った端末シミュレーション
- ID-1スマートカード、SIMおよびU-SIMコンポーネント、eSIMおよびM2Mモジュールのテストが可能
- ISO 7816(ISO 10373-3)のテスト仕様の要件と完全に互換性があります
- ETSI TS 102 613およびTS 102 622の仕様を完全にサポート
- それ自身と被試験デバイスとの間の通信を記録し、スパイされたデータのグラフィック表示を提供する
- 外部スパイモードも利用可能
- 物理パラメータとプロトコルパラメータのカスタマイズが可能
- 多数の測定機能とテスト実装:電流、電圧、オープン/ショート、容量
- 多数の試験規格の基準テスター:EMVCo L1電気およびプロトコル、ISO 7816-3、ETSI TS 102 613およびTS 102 6
MP300TC3の対応プロトコル
ISO/IEC 7816-3
- T=0 and T=1 protocols : 100% implemented, managed by Firmware and FPGA, accelerated by hardware
SWP/HCI (ETSI TS 102.613 and ETSI TS 102.622)
- SWP transmission : Assisted by hardware
- LLC layers support : ACT, CLT, S-HDLC realised by firmware
USB-IC
USB 2.0
- Available speeds : Low speed, full speed
- Classes : ISO/IEC 7816-12, mass storage, custom protocols
I2C
modes supported :
- Standard mode
- Fast mode
- Fast mode plus
- Supports clock stretching, multi master arbitration, anti tearing
- Programmable parameters :
- Setup time, hold time, start and stop condition
- Clock high and low states
- Address width (7 and 10 bits)
- Nack condition
SPI
- Data width : 8 bits
- programmable parameters :
- phase, polarity
- anti tearing
Synchronous chips
- Support of all kind of memory components (SLE 46xx, T2G, …)
Raw mode - Implementation of custom protocols and support of out of standard chips
物理パラメータ(すべてのタイプ)
Voltages
-Vcc : Adjustable from 0V to 10V
-Vol/Voh :
+0V to 5V / 1V to 7V
+All pins can be adjusted independently
-Vil/Vih :
– 0.2V to 5V / 1V to 6.8V
Clock frequency
-ISO 7816 clock :
+Adjustable from 10kHz to 10Mhz
+Duty cycle : can be adjusted from 30% to 70%
-SPI clock :
-Adjustable up to 25MHz
-Pin states
+All pins can be managed separately
ISO 7816 communication parameters
- Adjustable parameters : All normative timings (WWT, BWT, CWT, …), parity, pull-up resistor
- SWP communication parameters
USB-IC parameters
- Voltage classes supported : 1.8V and 3.0V
スパイ機能
- Accuracy : 20 ns
- Signals displayed :
- All 8 pins (C1 C2 C3 C4 C6 C7 C8)
- SWP S1, S2
- USB
- Bytes
- Frames
- Trigger states
- I2C start and stop conditions, ACK/NACK, SDA/SCL transitions
- SPI SCK, MOSI, LISO, SS transitions
- Analog information (current, voltage measurement)
利用可能な試験
Electrical tests
- Open/short test (on all contacts,current forced can be adjusted)
- Leakage current (all contacts)
- Voltage measurement (all contacts, static, dynamic, burst mode)
- Current measurement (all contacts, static, dynamic, burst mode)
- Parametric tests (V=f(I), I=f(V))
- SWP specific measurement (statistics on SWP S2 current values)
Logical tests
- Anti tearing (checks the chip’s integrity against accidental removing from the reader)
- All timing measurement
- ISO 7816 and SWP concurrent I/O testing : send frames in ISO and SWP simultaneously