アルテック株式会社
ICTソリューション特設サイト

ICカード検査装置MP300TC3(接触型)

特性評価や
ラボでのタイプ承認に最適

MP300 TC3は、コンタクトスマートカードとセキュアエレメントのテストの世界標準です。
世界中の何百ものユニットに出荷され、数多くのテスト機能により、このツールのコンポーネントの特性評価や検証ラボでのタイプ承認に理想的です。

MP300TC3の主な機能

  • ISO 7816、SWP / HCI、I2C、SPI、USB 2.0、USB-ICプロトコルに従った端末シミュレーション
  • ID-1スマートカード、SIMおよびU-SIMコンポーネント、eSIMおよびM2Mモジュールのテストが可能
  • ISO 7816(ISO 10373-3)のテスト仕様の要件と完全に互換性があります
  • ETSI TS 102 613およびTS 102 622の仕様を完全にサポート
  • それ自身と被試験デバイスとの間の通信を記録し、スパイされたデータのグラフィック表示を提供する
  • 外部スパイモードも利用可能
  • 物理パラメータとプロトコルパラメータのカスタマイズが可能
  • 多数の測定機能とテスト実装:電流、電圧、オープン/ショート、容量
  • 多数の試験規格の基準テスター:EMVCo L1電気およびプロトコル、ISO 7816-3、ETSI TS 102 613およびTS 102 6

MP300TC3の対応プロトコル

ISO/IEC 7816-3

  • T=0 and T=1 protocols : 100% implemented, managed by Firmware and FPGA, accelerated by hardware

SWP/HCI (ETSI TS 102.613 and ETSI TS 102.622)

  • SWP transmission : Assisted by hardware
  • LLC layers support : ACT, CLT, S-HDLC realised by firmware

USB-IC

USB 2.0

  • Available speeds : Low speed, full speed
  • Classes : ISO/IEC 7816-12, mass storage, custom protocols

I2C

modes supported :

  • Standard mode
  • Fast mode
  • Fast mode plus
  • Supports clock stretching, multi master arbitration, anti tearing
  • Programmable parameters :
    • Setup time, hold time, start and stop condition
    • Clock high and low states
    • Address width (7 and 10 bits)
    • Nack condition

SPI

  • Data width : 8 bits
  • programmable parameters :
    • phase, polarity
    • anti tearing

Synchronous chips

  • Support of all kind of memory components (SLE 46xx, T2G, …)
    Raw mode
  • Implementation of custom protocols and support of out of standard chips

物理パラメータ(すべてのタイプ)

Voltages

-Vcc : Adjustable from 0V to 10V
-Vol/Voh :
+0V to 5V / 1V to 7V
+All pins can be adjusted independently
-Vil/Vih :
– 0.2V to 5V / 1V to 6.8V

Clock frequency

-ISO 7816 clock :
+Adjustable from 10kHz to 10Mhz
+Duty cycle : can be adjusted from 30% to 70%
-SPI clock :
-Adjustable up to 25MHz
-Pin states
+All pins can be managed separately

ISO 7816 communication parameters

  • Adjustable parameters : All normative timings (WWT, BWT, CWT, …), parity, pull-up resistor
  • SWP communication parameters

USB-IC parameters

  • Voltage classes supported : 1.8V and 3.0V

スパイ機能

  • Accuracy : 20 ns
  • Signals displayed :
    • All 8 pins (C1 C2 C3 C4 C6 C7 C8)
    • SWP S1, S2
    • USB
    • Bytes
    • Frames
    • Trigger states
  • I2C start and stop conditions, ACK/NACK, SDA/SCL transitions
  • SPI SCK, MOSI, LISO, SS transitions
  • Analog information (current, voltage measurement)

利用可能な試験

Electrical tests

  • Open/short test (on all contacts,current forced can be adjusted)
  • Leakage current (all contacts)
  • Voltage measurement (all contacts, static, dynamic, burst mode)
  • Current measurement (all contacts, static, dynamic, burst mode)
  • Parametric tests (V=f(I), I=f(V))
  • SWP specific measurement (statistics on SWP S2 current values)

Logical tests

  • Anti tearing (checks the chip’s integrity against accidental removing from the reader)
  • All timing measurement
  • ISO 7816 and SWP concurrent I/O testing : send frames in ISO and SWP simultaneously

関連製品

ソリューション製品の導入に関するご相談
仕様や御見積などのお問い合わせ

03-5542-6755お電話:平日 9:15~17:15

メールでのお問い合わせ