ICカード検査装置MP300TC3（接触型）

MP300 TC3は、コンタクトスマートカードとセキュアエレメントのテストの世界標準です。
世界中の何百ものユニットに出荷され、数多くのテスト機能により、このツールのコンポーネントの特性評価や検証ラボでのタイプ承認に理想的です。

MP300TC3の主な機能

• ISO 7816、SWP / HCI、I2C、SPI、USB 2.0、USB-ICプロトコルに従った端末シミュレーション
• ID-1スマートカード、SIMおよびU-SIMコンポーネント、eSIMおよびM2Mモジュールのテストが可能
• ISO 7816（ISO 10373-3）のテスト仕様の要件と完全に互換性があります
• ETSI TS 102 613およびTS 102 622の仕様を完全にサポート
• それ自身と被試験デバイスとの間の通信を記録し、スパイされたデータのグラフィック表示を提供する
• 外部スパイモードも利用可能
• 物理パラメータとプロトコルパラメータのカスタマイズが可能
• 多数の測定機能とテスト実装：電流、電圧、オープン/ショート、容量
• 多数の試験規格の基準テスター：EMVCo L1電気およびプロトコル、ISO 7816-3、ETSI TS 102 613およびTS 102 6

MP300TC3の対応プロトコル

ISO/IEC 7816-3

• T=0 and T=1 protocols : 100% implemented, managed by Firmware and FPGA, accelerated by hardware

SWP/HCI (ETSI TS 102.613 and ETSI TS 102.622)

• SWP transmission : Assisted by hardware
• LLC layers support : ACT, CLT, S-HDLC realised by firmware

USB-IC

USB 2.0

• Available speeds : Low speed, full speed
• Classes : ISO/IEC 7816-12, mass storage, custom protocols

I2C

modes supported :

• Standard mode
• Fast mode
• Fast mode plus
• Supports clock stretching, multi master arbitration, anti tearing
• Programmable parameters :
  • Setup time, hold time, start and stop condition
  • Clock high and low states
  • Address width (7 and 10 bits)
  • Nack condition

SPI

• Data width : 8 bits
• programmable parameters :
  • phase, polarity
  • anti tearing

Synchronous chips

• Support of all kind of memory components (SLE 46xx, T2G, …)
  Raw mode
• Implementation of custom protocols and support of out of standard chips

物理パラメータ（すべてのタイプ）

Voltages

-Vcc : Adjustable from 0V to 10V
-Vol/Voh :
+0V to 5V / 1V to 7V
+All pins can be adjusted independently
-Vil/Vih :
– 0.2V to 5V / 1V to 6.8V

Clock frequency

-ISO 7816 clock :
+Adjustable from 10kHz to 10Mhz
+Duty cycle : can be adjusted from 30% to 70%
-SPI clock :
-Adjustable up to 25MHz
-Pin states
+All pins can be managed separately

ISO 7816 communication parameters

• Adjustable parameters : All normative timings (WWT, BWT, CWT, …), parity, pull-up resistor

• SWP communication parameters

USB-IC parameters

• Voltage classes supported : 1.8V and 3.0V

スパイ機能

• Accuracy : 20 ns
• Signals displayed :
  • All 8 pins (C1 C2 C3 C4 C6 C7 C8)
  • SWP S1, S2
  • USB
  • Bytes
  • Frames
  • Trigger states
• I2C start and stop conditions, ACK/NACK, SDA/SCL transitions
• SPI SCK, MOSI, LISO, SS transitions
• Analog information (current, voltage measurement)

利用可能な試験

Electrical tests

• Open/short test (on all contacts,current forced can be adjusted)
• Leakage current (all contacts)
• Voltage measurement (all contacts, static, dynamic, burst mode)
• Current measurement (all contacts, static, dynamic, burst mode)
• Parametric tests (V=f(I), I=f(V))
• SWP specific measurement (statistics on SWP S2 current values)

Logical tests

• Anti tearing (checks the chip’s integrity against accidental removing from the reader)
• All timing measurement
• ISO 7816 and SWP concurrent I/O testing : send frames in ISO and SWP simultaneously