テスター／製造ライン用製品MP300 C3+CL3

MP300 C3+CL3は、デュアルインターフェイススマートカードおよびスマートオブジェクトのテストおよび（事前）パーソナライゼーションに関連するタスクのマーケットリーダーです。
主要なスマートカードやチップメーカーの工場で使用されていたこのツールは、生産性の高い制約、すなわちスループット、信頼性、効率性を完全に統合しました。

MP300 C3+CL3の主な機能

• ISO 7816、SWP / HCI（ETSI TS 102.613およびETSI TS 102.622）、USB 2.0
• ISO 14443 A / B、ISO 15693、FeliCaTM、MifareTM、B ‘（Innovatron）、およびすべてのNFCフォーラムタグ
• ASKモードとPSKモードの両方での高速通信（VHBR）の適用範囲
• テストパラメータ（電圧、クロック周波数、電界強度など）の定義に非常に柔軟性があります
• オープン/ショート、リーク、消費、駆動力、パラメトリックテスト、共振周波数、Q係数などを実行します
• ID-1スマートカード、SIM（マイクロSIM、ナノSIM）、M2Mモジュール、コンポーネントテープなどのフォームファクタをテストしパーソナライズするのに最適なツール
• 開いているAPIのおかげで簡単にコントロールできます
• モジュラー構造：1台のMP300マザーボードに最大2台のMP300 C3 / CL3を搭載可能
• デュアルPCDモード-PICCモード・モデルを含む多数のアンテナが利用可能
• SAMカードリーダーの有無

対応プロトコル

ISO/IEC 7816-3

• T=0 and T=1 protocols : 100% implemented, managed by Firmware and FPGA, accelerated by hardware

SWP/HCI (ETSI TS 102.613 and ETSI TS 102.622)

• SWP transmission : Assisted by hardware
• LLC layers support : ACT, CLT, S-HDLC realised by firmware

USB 2.0

• Available speeds : Low speed, full speed
• Classes : ISO/IEC 7816-12, mass storage, custom protocols

Synchronous chips

• Support of all kind of memory components (SLE 46xx, T2G, …)

ISO/IEC 14443 (proximity)

Supported data rates :

• 106, 212, 424, 848 kbps
• VHBR optionnal. Support of ASK and PSK modulations
• Asymetrical baudrates supported

B’ (Innovatron)

ISO/IEC 15693 (Vicinity cards)

• Supported data rates :
  • Low & high data rate
  • 1 out of 4, 1 out of 256

• Tag behaviour :
  • 1 sub carrier
  • 2 sub carriers

ISO 18000-3 Mode 1

Mifare™

• Supported versions : Classic, Light, Ultra Light, Ultra Light C, Desfire

FeliCa™

• Supported data rates : 212, 424 kbps

NFC Forum modes

• Peer 2 Peer, Listening, Polling

NFC Forum tags

• Tag type 1 (Innovision Topaz)
• Tag type 2 (Mifare Ultra Light)
• Tag type 3 (FeliCa)
• Tag type 4 (ISO 14443 A/B)

ISO 18092 (NFC-IP1)

• Supported communication mechanisms : Active/passive mode, initiator/target

Raw mode

• Possibility to implement custom protocols

プログラム可能なパラメータ

Physical parameters (contact interface)

• Voltages
• Vcc : Adjustable from 0V to 10V
• Vol/Voh : 0V to 5V / 1V to 7V
• Vil/Vih : 0.2V to 5V / 1V to 6.8V
• Clock frequency
• ISO 7816 clock :
• Adjustable from 10kHz to 20Mhz
• Duty cycle : can be adjusted from 30% to 70%

Pin states

• All pins can be managed separately

ISO 7816 communication parameters

• Adjustable parameters : All normative timings (WWT, BWT, CWT, …), parity, pull-up resistor

SWP communication parameters

• Available baudrates : 106 kbps, 212 kbps, 424 kbps, 848 kbps, 1,6Mbps
• Adjustable parameters : Activation time, P2, P3 parameters, current detection level

Physical parameters (contactless interface)

• Field strength
• Rise/fall time of the modulation
• Modulation index
• Pause time (ISO 14443 A & ISO 15693)
• Duration of each bit + EOF + SOF (ISO 14443 A)
• Load modulation amplitude (contactless smartcard simulation)
• Load on the reader field (contactless smartcard simulation)

Logical parameters

• Type A pause
• FWT, TR0, TR1, TR2
• Communication speed
• Response time (contactless smartcard simulation)

利用可能な試験

lectrical tests (contact interface)

• Open/short test (on all contacts,current forced can be adjusted)
• Leakage current (all contacts)
• Voltage measurement (all contacts, static, dynamic, burst mode)
• Current measurement (all contacts, static, dynamic, burst mode)
• Parametric tests (V=f(I), I=f(V))
• SWP specific measurement (statistics on SWP S2 current values)

Logical tests

• ISO 7816 and SWP concurrent I/O testing : send frames in ISO and SWP simultaneously

Electrical testing (contact interface)

• Resonance frequency / Q factor :
• Bandwidth : 11 MHz to 22 MHz
• Measurement made in loaded and unloaded manner
• Complex impedance :
• Resistor, Inductance, Capacitance
• Measurement of chip and antenna impedance
• Direct computation of Rp//Cp
• Open/short testing
• Magnetic field measurement (contactless smartcard simulation)

Logical testing

• Numerous timing controlled pre-implemented sequences (ex : Field on to REQA/REQB)
• Anti-tearing test
• Framing (parity error simulation, CRC error, protocol error, timing (short response, long response, …)