RFIDの研究開発

VoyanticのRFID検査装置は、RFID関連の学術研究から、RFIDタグ製品開発及び、RFIDソリューションの導入支援シーンまで、あらゆるRFIDの研究開発やトラブルシューティングに役立ちます。

RFIDタグの研究開発

RFIDタグの研究開発シーンにおいて、タグの持つ特性を正しく把握することは重要です。

RFIDタグは利用環境によって大きく性能が変化することから、対象物へ取付けた状態での離調を加味した広範な帯域での性能検査を行なうことが必要であり、リーダライターのように対象帯域が絞られた状態での計測では、実際に何が起こっているのか把握することは困難です。

離調の影響を考慮する広帯域テストが必要

RFIDは金属によって影響を受けることは広く知られていますが、他にもカーボンボード、ガラス、PVC、ラバーといった様々な素材からも影響を受け、離調（RFIDタグ内のアンテナが共振する周波数帯がシフト）します。
そのため、日本国内におけるUHF帯（916.7MHz〜920.9MHz）の範囲外（800～1,000MHz、インレイ設計においては600～1300MHzを推奨）での性能測定が必要です。

RFIDユーザのユースケースをカバーする機能テストが必要

アンテナから放射された電波とタグの角度毎の通信性能の変化の評価、多数同時読み取り時やフラグによる選別・コマンドの（標準コマンド／カスタムコマンド）の実行処理など、RFIDユーザの現場利用ニーズに近い環境での性能評価・機能テストを実施することには価値があります。

ユーザから選ばれるRFIDタグの実現のみならず、社会で用いられるRFIDの益々の浸透・活用の促進に寄与するものとなるでしょう。Voyanticの検査装置は、それらRFIDのあらゆる研究者様・製品開発者様・導入支援ベンダー様に貢献します。